1.耐震電接點(diǎn)壓力表PT-YTNXC-100耐震電接點(diǎn)壓力表PT-YTNXC-100

產(chǎn)品簡介：

  PT-YTNXC-100、PT-YTNXC -150-Z耐震電接點(diǎn)壓力表具有抗介質(zhì)脈動(dòng)和沖擊載荷，耐環(huán)境振動(dòng)等優(yōu)異特性，適用測量對(duì)銅和銅合金無腐蝕性的氣體，液體或蒸氣等壓力。儀表設(shè)上、下限二位開關(guān)型接點(diǎn)裝置，在壓力達(dá)到設(shè)定值時(shí)發(fā)出信號(hào)或通斷控制電路，供作業(yè)系統(tǒng)自動(dòng)控制或發(fā)訊用。其抗振結(jié)構(gòu)可有效抑制指針的抖動(dòng)、沖擊，保護(hù)接點(diǎn)，使儀表指示清晰，電信號(hào)切換可靠，工作穩(wěn)定。廣泛應(yīng)用于機(jī)械、化工、石油、冶金、電力等工業(yè)生產(chǎn)過程。

技術(shù)參數(shù)：

使用工作溫度：-25℃～55℃
　　  工作壓力上限：不大于儀表上限的2/3
　　  工作環(huán)境振動(dòng)頻率不大于25Hz，振幅不大于0.5mm
　　  儀表執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：Q/320211AuA02-2002
　　

2.四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率儀 型號(hào)：KDK-KDY-4

KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴(yán)格按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造，并針對(duì)目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進(jìn)。整套儀器有如下特點(diǎn)：
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表適時(shí)監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。
數(shù)字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±（0.4-0.5%讀數(shù)+0.1%滿度）
2、可測電阻率范圍：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、設(shè)有電壓表自動(dòng)復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時(shí)，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時(shí)，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對(duì)測量的干擾。
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機(jī)測量精度＜3%。
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、四探針頭采用上*的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高

3.表面振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)儀/振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)儀/振動(dòng)壓實(shí)試驗(yàn)機(jī) 型號(hào)：HYL8-ZYC-2

本儀器是采用表面振動(dòng)壓實(shí)法測定無粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的大干密度的試驗(yàn)儀器。 
1、電源電壓：380V；
2、耗電功率：≤looow；
3、振動(dòng)頻率：47.5Hz；
4、激振力二2.5-4.2KN；
5、夯板作用在試樣表面靜壓力：13、8Kpa；
6、試筒規(guī)格：鋁制大筒一個(gè)內(nèi)徑280mm，鋁制小筒一個(gè)內(nèi)徑152mm；

4.便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率測定儀 型號(hào)：KDK-KDY-1A

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時(shí)可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對(duì)1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級(jí)機(jī)的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直流數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對(duì)濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC
 

5.

四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/方阻儀/四探針電阻率測定儀  型號(hào)：KDK-KDY-1

四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機(jī)）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時(shí)掌控測量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測量某些箔層材料時(shí)，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測量硅片時(shí)可自動(dòng)進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計(jì)算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測量帶來很大方便。
2、主機(jī)技術(shù)能數(shù)
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率：12W
（5）使用環(huán)境：
溫度：23±2℃ 相對(duì)濕度：≤65%
無較強(qiáng)的電場干擾，無強(qiáng)光直接照射
（6）重量、體積：
主機(jī)重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）

備注：
等級(jí)測量時(shí)（測電阻率），精度<3%
電氣測量時(shí)（測電阻），精度在0.3%以內(nèi)

備注：
儀器包括：主機(jī)一臺(tái)；測試架（包括臺(tái)面）一個(gè)；四探針頭1個(gè)

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片全都是按照順序相對(duì)應(yīng)的