DT307-CS1350--高電流電化學(xué)工作站 高電流電化學(xué)控制儀 高電流電化學(xué)控制器詳細(xì)介紹

CS系列電化學(xué)工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測試等功能，所有測量功能均可定時自動進(jìn)行，用于無人值守下的自動測量。 
    CS系列包括多種型號，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±5A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±5.0A；電流測量下限為10pA。 
    CorrTestTM 測試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設(shè)計規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持*，全中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。 
    CorrTestTM 測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學(xué)的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。CorrtestTM 分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運算，能對極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。 
    CS系列電化學(xué)工作站全部采用USB2.0接口與計算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡單，即插即用。 
    外形尺寸：36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm(高)     儀器重量：6.5Kg 
應(yīng)用領(lǐng)域 高電流電化學(xué)工作站 高電流電化學(xué)控制儀 高電流電化學(xué)控制器
    1) 研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析；   
    2) 常規(guī)電化學(xué)測試，包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價； 
    3) 功能和能源材料(電池、超級電容器、納米材料、生物傳感器等)的機(jī)理和制備研究； 
    4) 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評價以及氫滲測試等； 
    5) 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)(包括水/混凝土/土壤等環(huán)境)中的腐蝕電化學(xué)測試。 
儀器配置 
    1) 儀器主機(jī)1臺                                2) CorrTest測試與分析軟件1套 
    3) 電解池(含鹽橋和排氣管)1套              4) 鉑金電極、參比電極、工作電極各1支          
    5) 模擬電解池1個                              6) 電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條 
    7) 電極電纜線1根                              8) 電極架 (選配*) 
    9) 屏蔽箱 (選配*) 
技術(shù)指標(biāo)與功能方 
  高電流電化學(xué)工作站 高電流電化學(xué)控制儀 高電流電化學(xué)控制器                           
  硬件參數(shù)指標(biāo)    恒電位電位控制范圍：±10V  恒電流控制范圍：±5.0A 
  電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV   電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù) 
  電位靈敏度：10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)  電流靈敏度：<10pA 
  電位上升時間：<1mS(<10mA), 
                <10mS(<2A),<20mS(>2A)  電流量程：2A～200nA, 共8檔 
  參比電極輸入阻抗：1012 W||20pF  Z大輸出電流：5.0A 
  槽壓：±15V  電流掃描增量：1mA @1A/mS 
  CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s  電位掃描時電位增量：0.1mV @1V/mS 
  CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s  DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s 
  SWV頻率：0.001～100KHz  CV的Z小電位增量：0.075mV 
  AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz，　  電流與電位量程：自動設(shè)置 
  DA分辨率：16bit，建立時間：1mS  低通濾波器 ：8段可編程 
  接口通訊模式：USB2.0 
 電化學(xué)阻抗測量指標(biāo)  
  信號發(fā)生器 
  頻率響應(yīng)：10mHz～115KHz(CS1310/CS1350) 
            10mHz～1MHz(CS1360)   交流信號幅值：0mV～2500mV 
  直流偏壓：-10～+10V  DDS輸出阻抗：50W 
  波形：正弦波，三角波，方波  正弦波失真：<1% 
  掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降  Z大負(fù)載電容：1nF；Z大負(fù)載電感：10mH 
  信號分析器 
  積分時間：Z大值：106個循環(huán)或者105S  測量時間延遲：0～105秒 
  Z小值：10mS 或者一個循環(huán)的Z長時間 
  直流偏置補償 
  電位自動補償范圍：-10V～+10V  電流補償范圍：-1A～+1A 
  帶寬調(diào)整：自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) 


  
     CS系列儀器不同型號功能比較 
功  能  方  法CS1120CS1150CS1300CS1310CS1350CS1360 
穩(wěn)態(tài)極化 
  開路電位測量（OCP）•••••• 
  恒電位極化•••••• 
  恒電流極化••••• 
  動電位掃描（DPP）•••••• 
  動電流掃描（DGP）••••• 
暫態(tài)極化 
  任意恒電位方波•••••• 
  任意恒電流方波••••• 
  多電位階躍（VSTEP）•••••• 
  多電流階躍（ISTEP）••••• 
  快速電位脈沖• 
  快速電流脈沖• 
計時分析  計時電位法（CP）•••• 
  計時電流法（CA）•••• 
  計時電量法（CC）•••• 
伏安分析  線性掃描伏安法（LSV）•••••• 
  循環(huán)伏安法（CV）•••••• 
  階梯伏安法（SCV）••• 
  差分脈沖伏安法（DPV）••• 
  常規(guī)脈沖伏安法（NPV）••• 
  方波伏安法（SWV）••• 
  交流伏安法（ACV）••• 
  常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）••• 
  二次諧波交流伏安 (SHACV)••• 
溶出伏安  恒電位溶出伏安••• 
  線性溶出伏安••• 
  階梯溶出伏安••• 
  方波溶出伏安••• 
  交流溶出伏安••• 
交流阻抗  電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描••• 
  電化學(xué)阻抗（EIS）～時間掃描••• 
  電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描••• 
腐蝕測量  循環(huán)極化曲線（CPP）•••••• 
  線性極化曲線（LPR）•••••• 
  電化學(xué)噪聲 (EN)•••••• 
  電偶腐蝕測量 (ZRA)•••••• 
  氫擴(kuò)散測試（HDT）••••• 
電池測試  電池充放電測試••••• 
  恒電流充放電••••• 
  恒電流間歇充放電••••• 
擴(kuò)展測量  盤環(huán)電極測試•••• 
  數(shù)字記錄儀•••••• 
  波形發(fā)生器•••• 
  圓盤電機(jī)控制•••• 
    注：* 氫滲透測試中主動式充氫需要另行配置CS1001A精密恒流源使用或采用CS2350雙恒電位儀。