3302 3252 3250 3259變壓器綜合測(cè)試儀
| 型號(hào) | 3250 | 3252/3302 | |
| 主要功能 | 變壓器掃描測(cè)試 | 變壓器掃描測(cè)試 + LCR 測(cè)試 | |
| 測(cè)試參數(shù) | |||
| 變壓器掃描測(cè)試 | 圈數(shù)比（Turn Ratio），相位（Phase），圈數(shù)（Turn），電感（L），品質(zhì)因子（Q），漏電感（LK ）,平衡（Balance）,交流電阻（ACR）,電容（Cp）,直流電阻（DCR）,接腳短路 （Pin Short） | ||
| LCR 測(cè)試 | -- -- | 電感（L）,電容（C），電阻（R），阻抗絕對(duì)值（|Z|），阻抗的導(dǎo)納（Y），直流電阻（DCR），品質(zhì)因子（Q），損耗因子（D），電阻（R），電抗（X），相位角（θ） | |
| 測(cè)試信號(hào) | |||
| 測(cè)試電壓 | Turn | 10 mV～10 V，±10%，10mV/step | |
| 其它 | 10 mV～2 V，±10%，10mV/step | ||
| 測(cè)試頻率 | Turn | 3250 , 3252 ：1 kHz ～200 kHz，±0.02% 3302 ：1 kHz ～1 MHz，± 0.02% 分辨率:0.01 Hz | |
| 其它 | 3200/3202/3250,3252 ：20Hz ～200kHz，±0.02% 3300,3302 ：20Hz～1MHz，±0.02% 分辨率:0.001Hz （<1 kHz ） | ||
| 輸出阻抗 | Turn | 10Ω, 當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)點(diǎn)2V 50Ω, 當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)>2 V | |
| 其它 | Constant=OFF：依電阻範(fàn)圍不同而定 Constant=320X:100Ω+0.5% Constant=107X:25Ω+0.5% Constant=106X:100mA±5%（1V設(shè)定）， 電感負(fù)載小於10Ω，10Ω+10%，阻抗點(diǎn)10Ω | ||
| 測(cè)量顯示範(fàn)圍 | |||
| L,LK | 0.00001uH ～ 9999.99H | ||
| C | 0.00001pF ～ 999.999mF | ||
| Q,D | 0.00001 ～ 99999 | ||
| Z,X,R | 0.00001 Ω ～ 99.9999M Ω | ||
| Y | 0.01nS ～ 99.9999 S | ||
| θ | -90.00 。 ～ +90.00 。 | ||
| DCR | 0.01mΩ‘ 0 99.999M Ω | ||
| Turn | 0.01 ～ 99999.99 圈 （ 次電壓小於 100 Vrms ） | ||
| Pin-Short | 11 組 , 接腳與接腳之間 , | ||
| 基本準(zhǔn)確度 | |||
| L,LK,C,Z,X,Y,R,DCR | 0.1%（若為AC參數(shù)1kHz ） | ||
| Q,D | 0.0005（1kHz ） | ||
| θ | 0.03 °（1kHz ） | ||
| Turn | 0.5%（1kHz ） | ||
| 量測(cè)速度（zui快速） | |||
| L , LK , C ,Z , X , Y ,R ,Q ,D , θ | 80 meas./sec . | ||
| DCR | 50 meas./sec . | ||
| Turn | 10 meas./sec . | ||
| 判定方式 | |||
| 變壓器掃描測(cè)試 | 各測(cè)試參數(shù)之良品/不良品判定由選購(gòu)之處理器 接口輸出 | ||
| LCR 測(cè)試 | -- -- | 10 級(jí)分類及總合計(jì)數(shù)由選購(gòu)之 處理器 接口輸出 良品/不良品判定由標(biāo)準(zhǔn) 處理器 接口輸出 | |
| 顯示器 | 320×240點(diǎn)矩陣 LCD 液晶顯示器 | ||
| 修正功能 | 開路 （Open ）/短路（Short）歸零，負(fù)載修正 | ||
| 內(nèi)存 | 15 組儀器設(shè)定，可藉由記憶卡擴(kuò)充 | ||
| 等效電路模式 | 串聯(lián)，並聯(lián) | ||
| 觸發(fā) | 內(nèi)部，手動(dòng)，外部 | ||
