1996年以來，科美在半導體，平板顯示器，電子物質(zhì)，生命科學和化學分析上，研發(fā)和提供了*的，*的解決方案?？泼溃鳛闇y量和分析技術(shù)市場上的領(lǐng)頭和動力，以它突出的表現(xiàn)得到了世界范圍的認可。
- 技術(shù)參數(shù)
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活動范圍 150 x 120mm（70 x 50mm 移動距離）
測量范圍 200?~ 35?（根據(jù)膜的類型）
光斑尺寸 20? 典型值
測量速度 1~2 sec./site
應用領(lǐng)域 聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質(zhì): SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..
半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
選擇 參考樣品（K-MAC or KRISS or NIST）
探頭類型 三目探頭
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明類型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
- 主要特點
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尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
類型 手動的
測量樣本大小 ≤ 4"
測量方法 非接觸式
測量原理 反射計
特征 測量迅速，操作簡單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)秀的重復性和再現(xiàn)性
用戶易操作界面
每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能
可測量多達3層
可背面反射
