XPR-300型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)zui常用的專業(yè)實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
一、儀器的主要用途和特點
XPR-300型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)zui常用的專業(yè)實驗儀器?？晒V大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。
本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域，適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測量、結(jié)晶動力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。
偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統(tǒng)匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學(xué)、自動控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前技術(shù)，多年研究開發(fā)的結(jié)果，在國內(nèi)享有.本儀器的具有可擴(kuò)展性，可以接計算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對圖片進(jìn)行保存、編輯和打印
名稱 規(guī)格 總放大倍數(shù)： 40X---630X 無應(yīng)力消色差物鏡 4X/0.1 10X/0.25 25X/0.40 40X/0.65彈簧 63X/0.85彈簧 目鏡 10X分劃目鏡 試片 石膏1λ試片 云母1/4λ試片 石英楔子試片 測微尺 0.01mm 濾色片 藍(lán)色 帶座目鏡網(wǎng)絡(luò)尺 移動尺 移動范圍30mm×40mm 鏡筒 三目觀察 熱臺組成 性能 顯微精密控溫儀 在 20倍物鏡下工作溫度可達(dá)到zui高300 ℃ 、溫度運(yùn)行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設(shè)定， 30段溫度編程，循環(huán)操作，能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設(shè)定起始溫度，及在該段內(nèi)可維持時間，升溫速率可調(diào)、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數(shù) 顯微加熱平臺 可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1
二、儀器的主要技術(shù)指標(biāo) 1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):
10X十字目鏡
2.熔點儀技術(shù)參數(shù):
• 起始溫度室溫
• 工作區(qū)加熱使用面積至少 1X1厘米
• 工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1
• 透光區(qū)域 2mm以上，可調(diào)
• 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
• 熱臺可以隨載物臺移動
在加熱狀態(tài)下zui高可使用 20倍物鏡 注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離
太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）
三、系統(tǒng)數(shù)字性 XPR-300C型偏光熔點儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、*的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以在計算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。
四、系統(tǒng)組成 1、偏光顯微鏡XP-300
2、電腦適配鏡
3、彩色攝像器機(jī)
4、A/D轉(zhuǎn)換器（圖形采集設(shè)備）
5、熱臺
6、計算機(jī)（選購）
