操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品簡(jiǎn)介
本機(jī)器可模擬 Notebook 、手機(jī)、PDA 各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用後，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，並可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。
操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品簡(jiǎn)介
本機(jī)器可模擬 Notebook 、手機(jī)、PDA 各種動(dòng)作之操作，以了解產(chǎn)品在多次使用後，各種零件的耐久狀況。由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，並可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器。
操作模擬耐久試驗(yàn)機(jī)Notebook 測(cè)試規(guī)格:
磁碟片插入、退出試驗(yàn)。光碟機(jī)插入、退出試驗(yàn)。PCMCIA插入、退出試驗(yàn)。 電池插入、退出試驗(yàn)。 各種接頭插入、退出試驗(yàn)。 （ PRINT 埠、COM埠、USB、 PS2 等等 ） 桌面放落試驗(yàn) 。
手機(jī)測(cè)試規(guī)格：
天線上、下抽取試驗(yàn)。天線彎曲試驗(yàn)。電池插入、拔出試驗(yàn)。連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)。ON 、OFF 開關(guān)機(jī)壽命試驗(yàn)。上蓋打開、關(guān)閉壽命試驗(yàn)。短距離落下壽命試驗(yàn)。 SIM 卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。
PDA 測(cè)試規(guī)格： CF卡插拔耐久試驗(yàn)。 Battery 蓋插、拔耐久試驗(yàn)。DC插頭耐久試驗(yàn)。連接器插、拔耐久試驗(yàn)。筆插拔耐久試驗(yàn)。觸控螢?zāi)荒Σ聊途迷囼?yàn)。 ON 、 OFF 開關(guān)機(jī)耐久試驗(yàn)。
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