型號：GR/HS-WDI
北京硅片缺陷觀測儀，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；產(chǎn)品特點
■北京硅片缺陷觀測儀適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；
■使硅片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時大程度降低此項工作強度；
■實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
■使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)，像素較高， 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富；
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計 ；
■有效分辨率為 200 萬像素；
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
