| 產(chǎn)品型號 | 探測面積 Mm | 光譜范圍 Nm | 動態(tài)范圍 | 快門速度 s | 幀頻 Hz | 增益 dB | 靈敏度 | 飽和密度 mW/cm2 | 損傷閾值 W/cm2 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| BeamOn | 6.47x 4.83 | UV: 190-1100 VIS: 350-1100 IR1310: 350-1310 IR1550: 1550+/-50 | ≤10e11 | 1/50-1/100000 | 25 | 6-60 | 0.5nW/cm2@633nm 1.5µW/cm2@1310nm 5µW/cm2@1550nm | 1 (VIS/UV) 5 (IR1550) | 50 |
| BeamOn HR | 6.47X4.83 | VIS: 350 – 1310 IR: 1550±50 | 60dB | 0.6s-1µs | 15 | 1-23 | 5nW/cm2@633nm 60µW/mm2@1310nm 22µW/mm2@1550nm | 2(VIS) 10(IR) | 50 |
| BeamOn2/3 | 8.5X6.35 | 350 – 1100nm | 60dB | 1/50-1/100000 | 25 | 6.0-14.4 | 40nW/cm2@633nm | 0.1 | 50 |
| BeamOn U3 | 11.34 x 7.13 | 350 - 1600 | 60dB | 39μs - 20s | 150 | 0-24 | 20 µW/mm2@633nm 2 W/mm2@1550nm | 1 | 50 |
| BeamOn 2 | Best system for high resolution laser beam measurement, especially for focused beams. | ||||||||
| BeamOn X | A cost-effective Beam profiler based on global shutter technology, combined with 1/1.8" detection area, and user-friendly sofTWare. | ||||||||
| BeamOn WSR | Wide Spectral range 190nm to 1600nm CCD Beam Profiler | ||||||||
| BeamOn LB | Beam Profiling from remote. | ||||||||
| BeamOn LA | The BeamOn LA system is a beam diagnostics measurement system for real-time measurement of CW or Pulsed laser beams. | ||||||||
Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家專業(yè)從事激光光束自動化測量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富，功能全面。
提供了兩種技術(shù)的光束質(zhì)量分析儀：CCD式（BeamOn系列）和刀口式（Beam Analyzer系列）。
CCD式光束質(zhì)量分析儀：
高分辨率：
高分辨率激光光束質(zhì)量分析儀（1.4M像素）帶有電動光學(xué)濾波輪組（軟件或者ActiveX控制）。具有12位的動態(tài)范圍，能對連續(xù)光和脈沖光的形狀，位置，功率等光束特性進行測量。USB2.0接口，Duma可提供一系列的測量配件，集成的電動濾波輪和三片衰減片，通過濾波輪軟件自動調(diào)節(jié)，可測量從nW到1W不同強度的激光。
技術(shù)：
Duma的CCD光束質(zhì)量分析儀是一種既可以測量連續(xù)光也可以測量脈沖光的光束質(zhì)量診斷設(shè)備。具備光束寬度，光束形狀，位置，功率，強度分布等多種參數(shù)測試能力。使用USB2.0數(shù)據(jù)且可以用軟件控制。通多控制衰減片的倍數(shù)多次測量，可以突破動態(tài)范圍的限制來精確測量大的動態(tài)范圍的激光束。這種技術(shù)可以測量相對于點1%的功率動態(tài)范圍分布，這種技術(shù)可測量功率密度點到最弱點。
亞微米：
亞微米級別光束質(zhì)量分析儀為亞微米級別光斑提供了光束分析和圖形處理功能。主要應(yīng)用于CD唱頭，激光二極管，唱頭透鏡和光學(xué)元件調(diào)整，小直徑光束，以及任何需要光束測量的系統(tǒng)。
刀口式光束質(zhì)量分析儀
的，的技術(shù)在不同的交叉角和不同的交叉面對光束空間強度進行斷層重建從而測量光束質(zhì)量。提供了高分辨率光束直徑和剖面測量，并能夠顯示光束功率分布的二維和三維視圖。
優(yōu)點：
- 高動態(tài)范圍，高分辨率
- 實時測量能有效控制光束質(zhì)量
- 紫外，可見，近紅外寬光譜測量
- 功能
- 無像差掃描式光學(xué)衰減器可測量高功率大動態(tài)范圍光束
- 工業(yè)解決方案—尺寸小
- 12位A/D轉(zhuǎn)換器，可實現(xiàn)高分辨率采樣
- 數(shù)據(jù)通過RS232或者TCP/IP與轉(zhuǎn)換器連接。
