- 產(chǎn)品詳細(xì)
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靈活的探測(cè)，4步工作流程，gao級(jí)的分析性能
將分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
靈活的檢測(cè)器選項(xiàng)，獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測(cè)器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測(cè)器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測(cè)器生成高分辨率透射圖像。
使用HDBSD或YAG檢測(cè)器分析成分。
用戶友好,操作簡(jiǎn)單
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡(jiǎn)潔的用戶界面。
它同時(shí)為操作經(jīng)驗(yàn)豐富的專家用戶和初級(jí)用戶提供了簡(jiǎn)便的操作。
基于實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。
但是，非專業(yè)用戶（例如學(xué)生，接受培訓(xùn)不久的人員或質(zhì)量工程師）也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項(xiàng)可滿足操作經(jīng)驗(yàn)豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。特點(diǎn)：
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
自動(dòng)化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
接下來對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。zui后使用工作流程的zui后一步，將結(jié)果可視化。
分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。
Gemini光學(xué)元件
基于成熟的 Gemini 技術(shù)
Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率，通過二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。
用于清晰成像的靈活探測(cè)
利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
利用 BSD4 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。
配件：
SmartEDX
為您帶來一體化能譜分析解決方案
如果單采用SEM成像技術(shù)無法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在SEM中采用能譜儀（EDS）來進(jìn)行顯微分析。通過針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于：
優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用，并且由于氮化硅窗口的透過率，可以探測(cè)輕元素的低能X射線。
工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性，以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。
完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持，由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。
拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)
集成化的拉曼成像
在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果，獲得材料更豐富的表征信息。通過擴(kuò)展蔡司Sigma300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中的化學(xué)指紋信息，從而指認(rèn)其成分。
識(shí)別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息
可進(jìn)行3D分析，在需要時(shí)可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。
集成RISE讓您體驗(yàn)由的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢(shì)。
可視化及分析軟件
蔡司Atlas 5-挑戰(zhàn)多尺度分析
Atlas 5可以簡(jiǎn)化您的工作：以樣本為中心的關(guān)聯(lián)環(huán)境下為您創(chuàng)建多尺度、多模式的綜合圖片。Atlas 5集強(qiáng)大的硬件和易于操作的軟件為一體，大大拓展了蔡司掃描電鏡（SEM）的應(yīng)用范圍。
可視化及分析軟件
蔡司推薦您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro
此解決方案可為X射線，F(xiàn)IB-SEM，SEM以及氦離子顯微鏡獲取的三維數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化三維重構(gòu)和分析。
基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可視化技術(shù)和優(yōu)異的圖形處理技術(shù)。DragonflyPro支持通過簡(jiǎn)單易用的Python腳本進(jìn)行定制。用戶可以掌控3D數(shù)據(jù)后期處理環(huán)境和流程
