一、用途與特點(diǎn)：
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是目前切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的儀器。
我們根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
二、主要技術(shù)參數(shù)：
1. 放大倍數(shù)：50×；
2. 投影屏尺寸：ф200mm;
3. 工作臺位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)；
4. 工作臺轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360о（無刻度）；
5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;
6. 電源：200V 50HZ 150W;
7. 外形尺寸：515×224×603mm;
8. 重量： 約18kg。
