武漢探針臺(tái)雙面探針臺(tái)自動(dòng)探針臺(tái)是一種用于半導(dǎo)體、光電等領(lǐng)域的精密測(cè)試設(shè)備，主要有以下作用和意義：

作用

實(shí)現(xiàn)雙面測(cè)試：能從被測(cè)器件的頂部和底部同時(shí)進(jìn)行探測(cè)，滿足一些特殊結(jié)構(gòu)器件或測(cè)試場(chǎng)景的需求。例如，對(duì)于具有背接觸結(jié)構(gòu)的芯片、晶圓，或者需要在器件兩面施加不同信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的情況，雙面探針臺(tái)可以通過(guò)頂部和底部的探針分別建立電氣連接，實(shí)現(xiàn)對(duì)器件全面的性能測(cè)試。

提高測(cè)試精度：配備高精度的定位系統(tǒng)和探針控制機(jī)構(gòu)，可確保探針與器件兩面的電極或測(cè)試點(diǎn)精確對(duì)準(zhǔn)和穩(wěn)定接觸，從而提高電學(xué)參數(shù)測(cè)試的精度和重復(fù)性。一些雙面探針臺(tái)定位精度可達(dá)微米甚至亞微米級(jí)別，能滿足微小尺寸器件的測(cè)試要求。

支持多種測(cè)試功能：可集成多種測(cè)試功能，如直流參數(shù)測(cè)試、射頻測(cè)試、高低溫環(huán)境測(cè)試等。通過(guò)更換不同類型的探針座和測(cè)試儀器，能夠?qū)ζ骷诓煌瑮l件下的性能進(jìn)行全面評(píng)估。例如，在進(jìn)行射頻測(cè)試時(shí)，雙面探針臺(tái)可以提供良好的信號(hào)傳輸和屏蔽性能，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

便于失效分析：在失效分析中，雙面探針臺(tái)具有優(yōu)勢(shì)。例如，在研究晶圓上芯片的失效問題時(shí)，它可以一面接觸芯片的正面進(jìn)行常規(guī)測(cè)試，另一面通過(guò)紅外相機(jī)或其他成像設(shè)備進(jìn)行觀察，幫助快速定位失效位置，確定失效原因。

武漢探針臺(tái)雙面探針臺(tái)自動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)

樣品臺(tái)尺寸：8寸不銹鋼卡盤，樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，可接背電極

樣品固定方式：真空吸附，配置4個(gè)真空開關(guān)

氣動(dòng)升降平臺(tái)，可雙面點(diǎn)針，落下可作單面探針臺(tái)試用

垂直/水平雙顯微鏡結(jié)構(gòu)

樣品臺(tái)X-Y微調(diào)：200*200mm，精度5微米

樣品臺(tái)X-Y粗調(diào)：氣動(dòng)控制，可調(diào)節(jié)樣品臺(tái)在XY平面內(nèi)自由移動(dòng)

樣品臺(tái)Z軸行程：12mm，微調(diào)升降精度5微米

樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)：可360°旋轉(zhuǎn)，粗調(diào)快速旋轉(zhuǎn)帶鎖死

顯微鏡X-Y軸行程：50*50mm

顯微鏡升降：氣缸自動(dòng)控制，配套獨(dú)立控制開關(guān)

針座平臺(tái)微調(diào)升降：行程10mm，精度0.1mm

尺寸：680*750*780mm

重量：約180千克

可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試，射頻測(cè)試等