AV6332A/B 光回波損耗測(cè)試儀
品牌：CETC(中電科41所)
產(chǎn)品綜述
AV6332A/B光回波損耗測(cè)試儀內(nèi)置2×2光開關(guān)，可快速實(shí)現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測(cè)試。光回波損耗測(cè)試時(shí)，不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測(cè)試效率。通過(guò)內(nèi)置激光器功率檢測(cè)模塊，實(shí)現(xiàn)光插入損耗準(zhǔn)確測(cè)試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。
主要特點(diǎn)
l 回?fù)p測(cè)量無(wú)需纏繞或使用匹配液
l 適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測(cè)試，待測(cè)光纖跳線短至70cm
l 全自動(dòng)雙波長(zhǎng)光插回?fù)p同時(shí)測(cè)試
l 單向和雙向測(cè)試，縮短測(cè)試時(shí)間
l 設(shè)定不同插回?fù)p閾值
l 同時(shí)顯示插回?fù)p測(cè)試結(jié)果
l 保存參考和待測(cè)的測(cè)試結(jié)果，測(cè)試裝置不變的話，可以直接調(diào)用保存的參考數(shù)據(jù)
回?fù)p測(cè)量無(wú)需纏繞或使用匹配液
儀器采用光時(shí)域反射技術(shù)，區(qū)別于傳統(tǒng)的光連續(xù)波反射技術(shù)，相應(yīng)地避免了光回波損耗測(cè)量過(guò)程中的纏繞或者使用匹配液，提高了測(cè)試效率。
適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測(cè)試，待測(cè)光纖跳線短至70cm
不同型號(hào)儀器測(cè)試的回波損耗分別能低至10dB和高達(dá)80dB，這樣，可以根據(jù)產(chǎn)品回波損耗值來(lái)選擇不同型號(hào)的儀器。儀器設(shè)計(jì)了窄脈寬的激光器脈沖光驅(qū)動(dòng)電路，當(dāng)待測(cè)光回波損耗超過(guò)40dB時(shí)，待測(cè)光纖跳線可短至70cm。
全自動(dòng)雙波長(zhǎng)光插回?fù)p同時(shí)測(cè)試
測(cè)試過(guò)程中，選中雙波長(zhǎng)之后，參考測(cè)試可顯示雙波長(zhǎng)的輸出光功率，待測(cè)件測(cè)試可顯示雙波長(zhǎng)的光插入損耗和光回波損耗測(cè)試結(jié)果。
單向和雙向測(cè)試，縮短測(cè)試時(shí)間
儀器通過(guò)內(nèi)置2×2光開關(guān)，可以從不同輸出端口輸出脈沖光，從而實(shí)現(xiàn)單雙向測(cè)試功能。雙向測(cè)試時(shí)，一次連接光纖跳線的兩個(gè)端面，一次測(cè)試即可測(cè)出跳線的光插入損耗和這兩個(gè)端面的光回波損耗，從而使測(cè)試時(shí)間減半。
設(shè)定不同插回?fù)p閾值
進(jìn)入儀器設(shè)置測(cè)試條件界面，在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應(yīng)的數(shù)值，那么在測(cè)試結(jié)果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會(huì)顯示為紅色，其他為藍(lán)色。
典型應(yīng)用
如下圖所示，使用AV6332A/B光回波損耗測(cè)試儀同時(shí)測(cè)試FC/APC型跳線的光插入損耗和光回波損耗。
對(duì)AV6332A/B光回波損耗測(cè)試儀進(jìn)行三步參考測(cè)試，分別測(cè)出從OUTA和OUTB輸出的脈沖光光功率，然后接入待測(cè)跳線，點(diǎn)擊測(cè)試鍵，即可測(cè)出待測(cè)光纖跳線的光插入損耗和光回波損耗。
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