2650 系列高功率 SourceMeter SMU 儀器集精密電源、電流源、數(shù)字萬用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負載和觸發(fā)控制器于一體，主要用于對高功率半導體器件進行I-V參數(shù)測試和特性分析，應用領域包括高功率器件的研發(fā)，可靠性測試，生產(chǎn)測試，針對的高功率器件主要有高亮度LED，功率半導體器件（主要是功率MOSFET和BJT雙極晶體管），DC-DC變換器，電池以及其他高功率電子材料，組件等。2651A 型具有高電流源功能和 1pA 分辨率，非常適用于高亮度 LED、功率半導體、直流-直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池以及其他高功率材料和元器件檢定。2657A 型檢定和測試高壓電子器件和功率半導體。
 

典型應用：

• 半導體材料和器件的特性分析；
• 電壓或電流的波形發(fā)生器；
• 電壓或電流的脈沖發(fā)生器；
• 精密的電源；
• 真實的電流源；
• 數(shù)字測量儀器；（DC V，DC I，電阻和功率）；
• 精密電子負載
 
2651A：
• 源（Source）或阱（Sink）的能力：
—2000W的脈沖功率（±40V，±50A）
—200W的DC功率（±10V@±20A，±20V@±10A，±40V@±5A）
• 2臺并聯(lián)使用，可以產(chǎn)生±40A的直流或±100A的脈沖電流（最小脈寬100μs），2臺串聯(lián)使用,可以產(chǎn)生±80V的電壓；
• 測試功率MOSFET器件的導通阻抗RDSON的指標優(yōu)于100μΩ；
• 可以輸出高的脈沖電流，以減少器件的自熱效應；
• 1pA的分辨率可以進行精密的非常低的漏電流測試；
• 1μs每點，18bit的采樣，可以對瞬態(tài)現(xiàn)象進行精確的特性分析；
• 1%-99%的脈沖占空比；
• 包括TSP Express特性測試軟件，Labview驅(qū)動；
• Keithley ACS測試軟件支持；
 
2657A：
• 源（Source）或阱（Sink）的能力：
—180W的DC或脈沖功率（±3000V@±20mA，±1500V@±120mA）；
• 典型脈沖時間：3KV下15ms；1KV下5ms；
• 1fA的電流測量分辨率；
• 3KV下小于5pA的本底漂移；
• 測試晶體管和MOSFET的擊穿電壓
• 1μs每點，18bit的采樣，可以對瞬態(tài)現(xiàn)象進行精確的特性分析；
• 包括TSP Express特性測試軟件，Labview驅(qū)動；
•Keithley ACS測試軟件支持；

 包括TSP Express特性測試軟件，Labview驅(qū)動；
 Keithley ACS測試軟件支持；