分析方法能量色散X熒光分析方法 測(cè)量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測(cè)量 同時(shí)檢測(cè)元素數(shù)幾十種元素可同時(shí)分析 處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴(kuò)展存儲(chǔ)支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù) 含量范圍ppm～99.99% 檢測(cè)時(shí)間3-30秒 GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng) 檢測(cè)對(duì)象固體、液體、粉末 探測(cè)器25mm2 0.3mil，SDD探測(cè)器 探測(cè)器分辨率可達(dá)139eV 激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達(dá)ppm級(jí) 安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存 可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng) 數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計(jì)數(shù)率 操作環(huán)境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無(wú)電池）
手持式光譜儀產(chǎn)品詳細(xì)資料介紹，手持式光譜分析儀技術(shù)參數(shù)和性能配置由蘇州實(shí)譜信息科技有限公司提供手持式光譜儀報(bào)價(jià)和操作說(shuō)明。按照不同的行業(yè)和測(cè)試物質(zhì)，可分為手持式合金分析儀XRF5000，手持式礦石分析儀XRF7000，XRF8000，手持式土壤重金屬分析儀XRF9000，手持式ROHS有害元素分析儀XRF3000。利用新一代半導(dǎo)體檢測(cè)器提高測(cè)試速度和分析精度，手持式光譜儀的應(yīng)用已經(jīng)越來(lái)越廣泛。手持合金光譜儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。 現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損檢測(cè)。擁有廣泛、可自定義牌號(hào)庫(kù)，保證合金鑒別。
手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)：
1.手持式光譜儀使用過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔，檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意，防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí)，要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池，充電。
儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試，也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長(zhǎng)時(shí)間的精細(xì)測(cè)試，10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量。 數(shù)據(jù)傳輸更加高速 采用嵌入式Windows CE系統(tǒng)，高顯示分辨率（640*480）液晶顯示觸摸屏，結(jié)合數(shù)字多道技術(shù)，采用SPI數(shù)據(jù)傳輸，有效提升數(shù)據(jù)傳輸能力與數(shù)據(jù)運(yùn)算能力。在任何環(huán)境中，測(cè)試數(shù)據(jù)都盡在掌中。 防護(hù)、關(guān)愛健康 三重防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，具有無(wú)樣品空測(cè)，2秒自動(dòng)關(guān)X光管功能；工作時(shí)的水平遠(yuǎn)低于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，無(wú)射線泄漏；加厚防護(hù)測(cè)試壁；配送測(cè)試防護(hù)罩。 電量強(qiáng)勁、充電方便。
手持式光譜儀在使用的時(shí)候，對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
