產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光測(cè)試儀、電致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng)、外量子效率測(cè)量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測(cè)量系統(tǒng)、電功率密度測(cè)量系統(tǒng)、發(fā)光特性測(cè)試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)、光電特性測(cè)試、量子產(chǎn)率測(cè)量?jī)x、積分球光譜測(cè)試儀、發(fā)光特性測(cè)量?jī)x、IVLλ、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測(cè)試系統(tǒng)、量子效率測(cè)試儀、量子效率測(cè)試系統(tǒng)
Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電致發(fā)光量子效率測(cè)量?jī)xHiYield-EL是東譜科技 HiOE 綜合發(fā)光特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員，用于對(duì)電致發(fā)光樣品的發(fā)光特性進(jìn)行精確測(cè)量。HiYield 系統(tǒng)能夠以檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量，得到全面的測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（量子效率EQE等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；同時(shí)該系統(tǒng)集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊，可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀，僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試），典型的包括電致發(fā)光效率/量子效率EQE、壽命測(cè)試、CIE、CRI、CCT、光譜響應(yīng)、光譜功率分布、IV、JV、總光譜輻射通量、輻射通量、光通量、光效、光譜強(qiáng)度、峰值波長(zhǎng)、FHWM等，廣泛應(yīng)用于各種類型的電致發(fā)光器件測(cè)量。
產(chǎn)品特點(diǎn)
□ 能夠以檢測(cè)精度對(duì)電致發(fā)光器件進(jìn)行縱深測(cè)量，得到全面的法測(cè)量的電致發(fā)光效率參數(shù)（外量子效率等）以及相關(guān)的電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等參數(shù)；
□ 集成了穩(wěn)定性測(cè)試模塊，可以對(duì)器件的老化過程進(jìn)行測(cè)試，且同時(shí)得到器件老化過程的全面信息，即涵蓋了上述發(fā)光效率、電學(xué)、輻射度學(xué)、光度學(xué)、色度學(xué)等全面參數(shù)（通常的老化測(cè)試儀，僅對(duì)電流、電壓和相對(duì)亮度進(jìn)行測(cè)試）；
□ 由軟件控制測(cè)試過程，操作便捷，圖表和數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示；
□ 可快速、可靠對(duì)樣品的測(cè)試過程進(jìn)行追蹤；
□ 具有實(shí)時(shí)測(cè)量、預(yù)測(cè)量、定制測(cè)量、掃描測(cè)量、時(shí)間依賴測(cè)量等豐富的測(cè)量模式。
產(chǎn)品功能
□ 效率參數(shù)：發(fā)光效率/外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；
□ 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率（W）、電功率密度等；
□ 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等；
□ 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等；
□ 穩(wěn)定性測(cè)試。
■ 包含測(cè)量模式
√ 電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
√ 電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）；
√ 恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量；
√ 恒流單點(diǎn)測(cè)量；
√ 穩(wěn)定性測(cè)量：不同老化時(shí)間下測(cè)量。
產(chǎn)品應(yīng)用
□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）
□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）
□ 發(fā)光二極管（LED）
□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）
□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件等
規(guī)格型號(hào)
電致發(fā)光特性測(cè)量系統(tǒng) | |||||
系列 | HiYield-EL | ||||
光譜儀 | |||||
*光譜范圍 | 210-980 nm | 225-1000 nm | 350-1050 nm | 900-1700nm | |
探測(cè)器 | 制冷 CCD | ||||
系統(tǒng)信噪比 | 1000:1 | ||||
A/D 分辨率 | 16/18 bit | ||||
光學(xué)分辨率 | 0.14-7.7 nm FWHM | ||||
動(dòng)態(tài)范圍 | 85000（典型） | ||||
雜散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm | ||||
源表 | |||||
電壓范圍 | -210V~210V | ||||
電流范圍 | -1.05A~1.05A | ||||
*分辨率 | 1pA / 100nV | 10fA-10nV | |||
積分球 | |||||
*材料 | Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4 等 | ||||
*內(nèi)徑 | 3.3 / 6 / 10 / 15 inch可選 | ||||
*反射率 | 400 至 1500 nm，大于 99% | ＞97% | @600 nm 97 - 98% | ＞95% | |
軟件 | |||||
測(cè)量模式 | n 電壓掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）； n 電流掃描（含分段掃描、循環(huán)掃描等）； n 恒壓?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量； n 恒流單點(diǎn)測(cè)量；樣品倉 n 穩(wěn)定性測(cè)量：不同老化時(shí)間下測(cè)量。 | ||||
功能參數(shù)類別 | n 效率參數(shù)（外量子效率、電流效率、功率效率等）； n 電學(xué)參數(shù)：電壓（V）、電流（I）、電流密度（J）、電功率 （W）、電功率密度等； n 輻射度學(xué)：光譜功率分布、輻射通量、光通量、光視效能激光器* 、峰值波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)等； n 色度學(xué)：CIE 色度坐標(biāo)、相關(guān)色溫（CCT）、MK-1（mred）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等； n 穩(wěn)定性測(cè)試。 | ||||
測(cè)量夾具 | |||||
*定制夾具 | 根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計(jì)夾具 | ||||
| *該產(chǎn)品或參數(shù)可根據(jù)客戶需求靈活配置 | |||||
測(cè)試樣例
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