C測試儀 3506-10
對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
● 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
● 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現(xiàn)高反復精度
● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩(wěn)定測量
● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量
基本參數(shù)
測量參數(shù) | C(電容),D(損耗系數(shù)tanδ), Q (1/tan δ) |
測量范圍 | C:0.001fF～15.0000μF |
基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
測量頻率 | 1kHz, 1MHz |
測量信號電平 | 500mV, 1V rms |
輸出電阻 | 1Ω (在1kHz時2.2 μF以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
顯示 | LED(6位顯示,滿量程由點數(shù)有效距離來決定) |
測量時間 | 1.5ms：1MHz，2.0 ms：1kHz |
功能 | BIN分類測量,觸發(fā)同步輸出,測量條件記憶,測量值比較功能,平均值功能, Low-C篩選功能,振動功能,電流檢測監(jiān)視功能,輸出電壓值監(jiān)視功能,控制用輸入輸出(EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz,40VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 | 電源線× 1,電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1 |
