E2666B 測(cè)試夾具套件主要特性與技術(shù)指標(biāo)
可兼容的示波器
- MSOX4154A InfiniiVision X 系列
- DSOX4154A InfiniiVision X 系列
E2666B 測(cè)試夾具套件描述
安捷倫推薦使用 E2666B USB 2.0 高速設(shè)備測(cè)試夾具套件和 DSOXUSBSQ USB 2.0 信號(hào)質(zhì)量測(cè)試選件以及 1.5 GHz 帶寬的 4000 X 系列示波器,對(duì) USB 2.0 高速設(shè)備執(zhí)行信號(hào)質(zhì)量測(cè)試。使用在 USB-IF 標(biāo)準(zhǔn)上構(gòu)建的程控測(cè)試碼型對(duì)高速設(shè)備進(jìn)行測(cè)試,只需要您使用 SMA 電纜和適當(dāng)?shù)?SMA 至 BNC 適配器,將測(cè)試夾具提供的 D+ 和 D- 信號(hào)連接到示波器的輸入通道。
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- 在高速 USB 2.0 串行總線上進(jìn)行觸發(fā)和分析
- 采用了硬件解碼體系結(jié)構(gòu)
- 在各種 USB 數(shù)據(jù)包類型上進(jìn)行觸發(fā)。
- 使用時(shí)間交叉協(xié)議列表顯示進(jìn)行雙總線解碼
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- 應(yīng)用說(shuō)明 (1)
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Hi-speed USB Signal Quality Testing Using an Agilent InfiniiVision 4000 X-Series Oscilloscope This video shows how to perform a series of USB signal quality pre-compliance tests using an Agilent InfiniiVision 4000 X-Series oscilloscope. 視頻演示 2013-09-26 | ![]() |
DSOX4USBSQ USB 2.0 Signal Quality Test Option for 4000 X-Series - Data Sheet With the DSOX4USBSQ signal quality test option, you can now quickly verify the analog quality of your signals generated by USB hubs, hosts and devices based on USB-IF compliance standards. 產(chǎn)品資料 2013-08-16 | ![]() 語(yǔ)言
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Electrical Testing Notes for the DSOX4USBSQ USB 2.0 Signal Quality Test Application Shows how to use the DSOX4USBSQ USB 2.0 signal quality test application for InfiniiVision 4000 X-Series oscilloscopes. 用戶手冊(cè) 2013-02-12 | ![]() |
Characterizing Hi-speed USB 2.0 Serial Buses in Embedded Designs - Application Note The USB 2.0 serial interface has been rapidly replacing older RS-232 serial interfaces in embedded designs. 應(yīng)用說(shuō)明 2013-01-24 | ![]() 語(yǔ)言
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Agilent InfiniiVision 4000 X 系列示波器 Agilent InfiniiVision 4000 X 系列示波器 產(chǎn)品資料 2012-11-10 | ![]() 語(yǔ)言
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用于 InfiniiVision 3000 X 系列示波器的串行總線應(yīng)用 使用 InfiniiVision 3000 X 系列示波器可以更快速地驗(yàn)證和調(diào)試串行總線設(shè)計(jì)的信號(hào)完整性。 產(chǎn)品資料 2011-01-03 | ![]() 語(yǔ)言
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