PCB熒光X射線膜厚檢測裝置ALEX

PCB熒光X射線膜厚檢測裝置ALEX

熒光X射線元素分析儀WFD-70，X射線熒光元素分析儀FD-04，X射線熒光元素分析儀FD-03，X射線熒光元素分析儀FD-02，熒光X射線膜厚檢測裝置H，HD，L，PCB

產(chǎn)品介紹

熒光X射線元素分析儀WFD-70

輕元素的高靈敏度測量

特征

配備新開發(fā)的不需要液氮（SDD）的檢測器，無需液氮。

配備單色器法激發(fā)源

雙曲面單色器法配備激發(fā)源，可以高靈敏度測量輕元素。

可以測量從 9F 到 92U 的各種測量元件。

X射線熒光元素分析儀FD-04

搭載全新混合光學系統(tǒng)

特征

可選擇的照射區(qū)域

污染物分析 (1 mmφ) 到大孔徑 (20 mmφ) 可以選擇，展示了高精度質(zhì)量控制測量的能力。

自動進樣器還有兩種可互換類型：使用雜交小直徑樣品杯時可連續(xù)測量 12 次，使用大直徑 (50mmφ) 標準物質(zhì)時可連續(xù)測量 6 次。

X射線熒光元素分析儀FD-03

從輕元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高靈敏度測量，操作簡單

特征

配備新開發(fā)的不需要液氮（SDD）的檢測器，無需液氮。

通過安裝用于從輕元素 (13Al) 到重元素 (92U) 的高靈敏度測量的

新光學系統(tǒng)，靈敏度得到了極大提高。同時安裝了新開發(fā)的便于測量的軟件。

節(jié)省空間和節(jié)能設計

盡管有一個大樣品室，但該設備的主體足夠小，可以容納在 40 厘米見方的范圍內(nèi)。功耗小于100W，生態(tài)設計。

X射線熒光元素分析儀FD-02

設計簡單，通用機器，但用途廣泛

特征

配備新開發(fā)的不需要液氮（SDD）的檢測器，無需液氮。

用于高靈敏度微區(qū)測量的新型光學系統(tǒng)

大大增加了準直器的強度。

節(jié)省空間和節(jié)能設計

盡管有一個大樣品室，但該設備的主體足夠小，可以容納在 35 厘米見方的范圍內(nèi)。功耗小于100W，生態(tài)設計。

熒光X射線膜厚檢測裝置

特征

高測量精度和再現(xiàn)性

自動程序控制的高性能 X 射線管和高靈敏度檢測器大大減少了測量薄膜厚度的變化。

追求便利性

專用軟件和附帶的 PC獨立于主機?？紤]到緊急情況下備份和數(shù)據(jù)組織的可操作性，是一款追求生產(chǎn)現(xiàn)場便利性的測量機。

500萬日元范圍內(nèi)的合適售價

我們消除了所有浪費并模塊化了內(nèi)部結(jié)構(gòu)。已實現(xiàn)初始成本的顯著降低。維護也很出色，可以快速更換必要的部件。