簡(jiǎn)介
特性和優(yōu)勢(shì)
R&S®ZVT 與 R&S®ZVA 一樣，都具有全面的功能以及豐富的選件。 此外，它還提供更多的端口，即發(fā)生器和接收機(jī)。此處針對(duì) R&S®ZVA 描述的所有應(yīng)用也適用于 R&S®ZVT。 該儀器具有的網(wǎng)絡(luò)分析儀特性以及全面的測(cè)量功能，適用于 2-8 個(gè)端口的應(yīng)用，而不管測(cè)試端口的數(shù)量：
- 極為快速、準(zhǔn)確地測(cè)量多端口 DUT
- 不會(huì)因開(kāi)關(guān)矩陣控制發(fā)生延遲
- 更優(yōu)的穩(wěn)定性、可重復(fù)性以及靈活性
- 測(cè)量均衡 DUT
- 虛擬差分測(cè)量模式（單端端口的序列仿真，標(biāo)準(zhǔn)模式）
- 真正差分測(cè)量模式：
使用八個(gè)測(cè)試端口（四個(gè)內(nèi)部源），用戶可生成多達(dá)四個(gè)真正差分信號(hào)并將其同步應(yīng)用到 DUT 端口
- 的性能，支持放大器、混頻器、接收機(jī)、前端等對(duì)象的測(cè)量：
- 針對(duì)內(nèi)部發(fā)生器和接收機(jī)以及外部發(fā)生器的任意頻率及功率設(shè)置
- 測(cè)量混頻器的變頻損耗、回波損耗、泄漏等
- 放大器的交調(diào)以及熱 S 參數(shù)測(cè)量
- 通過(guò)單個(gè)儀器進(jìn)行混頻器的交調(diào)測(cè)量
- 針對(duì)二次變換 DUT 的測(cè)量，使用由單個(gè)裝置提供的射頻、LO1 及 LO2 信號(hào)
- 在放大器、混頻器、前端等對(duì)象上的脈沖測(cè)量 （欲知詳情，請(qǐng)參閱“應(yīng)用”及“選件”選項(xiàng)卡）
- 頻率及功率掃描脈內(nèi)點(diǎn)測(cè)量
- 針對(duì)脈沖、雙脈沖以及寬度小于 50 ns 的脈沖群的脈沖輪廓測(cè)量（12.5 ns 分辨率）； 記錄時(shí)間最長(zhǎng)為 3 ms
- 多信道接收機(jī)
- 通過(guò)直接發(fā)生器/接收機(jī)連接選件直接連接最多 16 個(gè)信道
- 并行同步信道采樣，比如為了對(duì)天線陣列進(jìn)行相位測(cè)量
- 適合在生產(chǎn)中使用
- 并行測(cè)量多臺(tái) DUT 可呈倍數(shù)增加吞吐量
- 減少儀器操作
規(guī)格
| 測(cè)試端口數(shù) | 2 至 8 ( R&S®ZVT8) 2 至 6 ( R&S®ZVT20) | |
| 頻率范圍 | 300 kHz 至 8 GHz ( R&S®ZVT8) 10 MHz 至 20 GHz ( R&S®ZVT20) | |
| 每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)量時(shí)間 | ||
| 在 1 MHz 中頻帶寬 | <3.5 µs | |
| 每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的采樣時(shí)間 | ||
| 在 5 MHz 中頻帶寬（帶 R&S®ZVA-K17 選件） | 430 ns | |
| 測(cè)量時(shí)間（201 個(gè)測(cè)試點(diǎn)） | 4.5 ms | |
| 數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間（201 個(gè)測(cè)試點(diǎn)） | ||
| 通過(guò) IEC/IEEE 總線 | <2.9 ms | |
| 在 100 Mbit/s LAN 中通過(guò) VX11 | <1.3 ms | |
| 在 100 Mbit/s LAN 中通過(guò)羅德與施瓦茨接口總線 (RSIB) | <0.7 ms | |
| 轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ||
| 信道之間 | <1 ms | |
| 儀器設(shè)置之間 | <10 ms | |
| 在 10 Hz 測(cè)量帶寬下的動(dòng)態(tài)范圍，測(cè)試端口之間 | 128 dB，典型值 138 dB ( R&S®ZVT8) 120 dB，典型值 133 dB ( R&S®ZVT20) | |
| 測(cè)試端口的輸出功率 | >13 dBm，典型值 15 dBm | |
| 功率掃描范圍 | >50 dB，典型值為 60 dB | |
| 中頻帶寬 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn) | 1 Hz 至 1 MHz | |
| 帶 R&S®ZVA-K17 選件 | 5 MHz（10 MHz，存在限制） | |
| 帶 R&S®ZVA-K7 選件 | 10 MHz（30 MHz，存在限制） | |
| 信道、圖表及跡線的數(shù)量 | >各 100 | |
| 每個(gè)跡線的測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量 | 1 到 60001 | |
| 操作系統(tǒng) | Windows XP Embedded | |
