HLP-01,試驗(yàn)探棒
TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗(yàn)指),符合: IEC, EN,CSA,UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗(yàn)指),符合UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗(yàn)指)
TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗(yàn)指),符合: IEC, EN,CSA,UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗(yàn)指),符合UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗(yàn)指)
Model HLP-01: 4.0mm Hazardous Live Parts Probe(試驗(yàn)探棒)
美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ,美國航空暨太空總署,英代爾,蘋果, NCR ,索尼公司,太陽,飛利浦公司,思科, AT&T , Compaq , JVC , Hewlett-Packard ,摩托羅拉, Mattel ,戴爾,3 Com 等公司;專為UL , CSA , ETL , TUV,Demko等試驗(yàn)室提供檢測產(chǎn)品. |
無相關(guān)文檔