DIL 806 中使用的光學熱膨脹測量方法是一個的測量過程，不受儀器的膨脹或收縮影響。因此，測量結果不需要根據(jù)不同的溫度程序來進行校正或校準。通過與 DIL 806 爐的快速響應特性相結合，該系統(tǒng)非常適合涉及多個溫度步驟和動態(tài)加熱速率的動態(tài)分析過程。
高性能 LED 向樣品發(fā)射寬幅平面光，并由高分辨率 CCD 傳感器檢測樣品陰影。然后檢測到的信號由數(shù)字化邊緣檢測處理器進行評估，從而靈敏并準確地測量尺寸的變化。該原理被稱為陰影光方法，能夠準確、地測量樣品尺寸隨溫度的變化。
樣品被置于盤形爐的中心平臺上，不受外力作用。因此，DIL 806 膨脹儀尤其適合測量金屬，并且在配備可選的零度以下爐子時可測量塑料樣品。
薄樣品也可采用專為此類應用設計的樣品支架來輕松進行分析。
寬幅入射光線意味著該儀器不像其他傳統(tǒng)膨脹測量技術那樣要求嚴格的樣品制備，并且樣品在平臺上的位置不需要精確定位，這樣不熟練的操作人員也可輕松使用。
儀器自動測定和保存初始長度，以用于后續(xù)的線性熱膨脹系數(shù)計算。
爐體能夠采用達 100 ℃/min 的速度快速加熱，并在 10 分鐘內從 1400 ℃ 冷卻至 50 ℃。
| 樣品長度： | 0.3 – 30 mm |
| 樣品高度： | 10 mm |
| 位移變化： | 29 mm |
| 位移分辨率： | 50 nm |
| 溫度分辨率： | 0.1 ℃ |
| α 準確度： | 0.03 x 10-6 K-1 |
| 溫度范圍： | -150 ℃ 至 -600 ℃ |
| 氣氛： | 真空、惰性氣體、空氣 |
