CISC RAIN Xplorer 卷對(duì)卷測試儀用于對(duì)卷軸上的RAIN RFID標(biāo)簽進(jìn)行自動(dòng)測試。
高速卷軸上RAIN RFID標(biāo)簽的自動(dòng)化測試
緊湊型、可負(fù)擔(dān)得起的工業(yè)級(jí)機(jī)器。
支持的協(xié)議包括:ISO/IEC 18000-63、EPC UHF Gen 2v2、RAIN RFID
讀取EPC
讀取存儲(chǔ)器
寫內(nèi)存
多頻點(diǎn)及功率等級(jí)(F,P)
可根據(jù)要求增加NFC標(biāo)簽測試
主要特點(diǎn):
卷對(duì)卷測試儀涵蓋的典型測試用例:
靈敏度測試
用戶定義的通過閾值
通過/不通過
內(nèi)存初始化
內(nèi)存驗(yàn)證
測試速度18000
失敗標(biāo)記選項(xiàng):信號(hào)、日志文件、墨水標(biāo)記、點(diǎn)標(biāo)簽涂抹器、暫停和手動(dòng)更換.