美國OEwaves公司的Hi-Q射頻測試測量系統(tǒng)利用微波光子學技術(shù)自動測量超低相位微波信號源。Hi-Q射頻測試測量系統(tǒng)測試速度快、*自動化,且在的頻段的任何工作頻率產(chǎn)生一個射頻或微波信號源的相位噪聲譜密度。 該射頻測試測量系統(tǒng)在寬頻段測量上有其*性,無需額外的低噪聲參考源或下變頻器,這與常規(guī)的零差法所要求的*不同。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高。 通過與美國國家標準與技術(shù)研究院測量系統(tǒng)比較,下圖給出了經(jīng)過校準的該測試測量系統(tǒng)的互相關(guān)性能。
▪ 快速實時測量 ▪ 全自動化 ▪ 互相關(guān)零差法能力 ▪ 不需要低噪聲噪聲參考信號源 ▪ 用戶友好界面 ▪ 簡單的筆記本電腦操作 ▪ 6Ux 19英寸機架系統(tǒng) ▪ 可定制的配置, ▪ 升級和選項
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