技術(shù)物理所研制的IR-2雙波段發(fā)射率測(cè)試儀采用反射率法的測(cè)試原理，即通過采用主動(dòng)黑體輻射源測(cè)定待測(cè)物表面的法向反射率，進(jìn)而測(cè)出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率。該儀器可測(cè)量常溫樣品在3～5um、8～14um、1～22um三個(gè)波段發(fā)射率。對(duì)特殊需要的用戶，通過專用的控溫加熱裝置，在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品，進(jìn)行發(fā)射率變溫測(cè)量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。此儀器以日本JAPAN SENSOR CORPORATION遠(yuǎn)紅外檢測(cè)儀為參考，誤差±0.03。

儀器特點(diǎn)：

1．儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源，采用六位高精度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測(cè)量范圍，而且極大地提高了儀器在測(cè)量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。

2．采用了*的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，使測(cè)量不受被測(cè)物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

3．在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測(cè)量誤差，除鏡反射(MR)探測(cè)通道外，還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補(bǔ)償通道，從而確保了儀器的測(cè)量精度。

4．在信號(hào)及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對(duì)微弱信號(hào)的探測(cè)，進(jìn)一步提高了儀器性能。

5．本儀器操作簡(jiǎn)單、使用方便、測(cè)量快速。

6．可按需更換濾光片，在多個(gè)紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。

7．在測(cè)量過程中不損傷被測(cè)樣品。

8．本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。

主要技術(shù)指標(biāo)

1．測(cè)量波段：3～5um、8～14um、1～22um

(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)

2．發(fā)射率測(cè)量范圍：0.01～0.99

3．靈敏度NE△ε：0.001

4．示值誤差：±0.02 (ε>0.50)

5．重復(fù)性：±0.01

6．樣品溫度：常溫(特殊用戶為常溫～300℃)

7．樣品尺寸：>Ф50

8．測(cè)量時(shí)間：3秒后按測(cè)量鍵E，即顯示ε測(cè)量值。

9．顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001

10. 電   源：  交流220V   50HZ