儀器介紹
iEDX-100G是一款具備鍍層厚度分析和環(huán)保RoHS檢測的雙功能X熒光光譜儀，操作簡單，上手方便，下照式檢測平臺，樣品放置哪里即可檢測哪里。是一款功能非常強大的檢測儀器
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小鍍層樣品測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用固定式X射線定位系統(tǒng)，無需定位測試高度
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
行業(yè)的SDD探測器，能量分辨率可達129±5eV,高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用，該款儀器采用全封閉樣品倉設計
襯鉛防護金屬涂層外殼，shutter鎖止功能（*），對操作人員安全負責
型號：iEDX-100G
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)。
同時可以分析多種元素，五層鍍層。
元素分析含量一般為1ppm到99.9% 。
鍍層厚度可分析到0.001um厚度。（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析建模曲線。
相互獨立的基體效應校正模型以及多準直器的匹配。
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V ，功率150W, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 450*390*370mm(X*Y*Z)mm
樣品室尺寸：310*284*100mm(X*Y*Z)mm
重量：40kg
標準配置
X射線開關鎖（附帶鑰匙兩把）
開閉式樣品腔
多準直器濾片切換
襯簽金屬屏蔽罩
SDD半導體探測器
高低壓電源
X射線光管
shutter鎖止器-X射線保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質（如重金屬）進行鑒別
分析黃金和其他貴金屬及其合金測定功能性鍍層的組分
連接器端子表面鍍層厚度分析
汽車五金鋅鎳合金鍍層分析
線材，金屬首飾上面鍍層厚度測量
