MPI 高低溫循環(huán)沖擊芯片機試驗箱
自動升降溫：冷凍機特殊設計，制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃，有效保護環(huán)境；不需要液態(tài)氮氣或液態(tài)二氧化碳冷卻。inTEST Temptronic 高低溫沖擊測試機提供兩種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
MPI 高低溫循環(huán)沖擊芯片機試驗箱
自動升降溫：冷凍機特殊設計，制冷劑不含氟利昂、安全無毒、不易燃，有效保護環(huán)境；不需要液態(tài)氮氣或液態(tài)二氧化碳冷卻
旋鈕式控制臺
溫度顯示精度：±1℃(通過美國國家標準與技術研究院 NIST 校準)
過熱溫度保護：出廠設置溫度 +230°C，操作員可根據(jù)實際需要設置高低溫限制點。
加熱模式下，冷凍機可切換成待機模式，以減少電力消耗。
大氣流量輸出，變溫速率快，節(jié)省操作時間，熱流罩提供局限性的溫度測試環(huán)境，特別適合溫度沖擊測試；設計防止水氣在DUT上凝結。
MPI 高低溫循環(huán)沖擊芯片機試驗箱
與傳統(tǒng)高低溫測試箱、溫濕度測試箱對比，inTEST ThermoStream 高低溫測試機主要優(yōu)勢：
1、變溫速率更快
2、溫控精度：±1℃
3、即時監(jiān)測待測元件真實溫度，可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模組)，可單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件
5、對測試機平臺load board上的IC進行溫度回圈 / 沖擊；傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試。
6、對整塊積體電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
溫度沖擊測試方法：
inTEST Temptronic 高低溫沖擊測試機提供兩種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過熱流罩或測試腔將被測 IC 與周邊環(huán)境隔離，然后對 IC 回圈噴射冷熱氣流，使IC 溫度短時間發(fā)生急劇變化，從而完成溫度回圈和溫度沖擊的測試。
