簡(jiǎn)化復(fù)雜的EMI量測(cè)與除錯(cuò)!
由于在消費(fèi)性電子產(chǎn)品速度越來(lái)越快,使得產(chǎn)生EMI的測(cè)試頻率越來(lái)越高,內(nèi)部組件不斷整合,密度越來(lái)越高,但是各個(gè)國(guó)家地區(qū)的EMI法規(guī)要求越來(lái)越嚴(yán),而產(chǎn)品生命周期越來(lái)越短,因此,如何在開發(fā)階段能有效快速地解決EMI的問題,減少產(chǎn)品在往返認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試次數(shù)與時(shí)間,一套簡(jiǎn)單好用的工具可以協(xié)助工程師迅速的發(fā)現(xiàn)EMI的來(lái)源,大幅加速上市的時(shí)間(time to market)。
固緯電子推出設(shè)計(jì)的GKT-008電磁場(chǎng)感應(yīng)探棒,體積小,感度高,可直接感測(cè)EMI信號(hào)能量,不必像一般傳統(tǒng)近場(chǎng)探棒要分別使用電場(chǎng)和磁場(chǎng)探棒去量測(cè)電場(chǎng)和磁場(chǎng)… 因此用戶可以節(jié)省產(chǎn)品的開發(fā)周期和認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的費(fèi)用,有助于加快產(chǎn)品進(jìn)入認(rèn)證階段及上市時(shí)間。
全新的近場(chǎng)探棒簡(jiǎn)化EMI測(cè)試/v_show/id_XMTc1ODUyMDAyOA==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
EMI傳導(dǎo)測(cè)試解決方案/v_show/id_XMTc1ODUxNjc0MA==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
電磁兼容方案:EMI近場(chǎng)探棒應(yīng)用范例/v_show/id_XMTc1ODUxNDA1Mg==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
電磁兼容方案:EMI高效率除錯(cuò)探棒/v_show/id_XMTc1ODUwNjE5Mg==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
電磁兼容方案:使用EMI近場(chǎng)探棒的挑戰(zhàn)/v_show/id_XMTY5MDkwMDc0OA==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
電磁兼容方案:EMI檢測(cè)器(Peak、Quasi-Peak、Average)介紹/v_show/id_XMTY5MDg1NjM1Mg==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
電磁兼容方案:秒懂EMC、EMI與EMS/v_show/id_XMTY5MDg0Njk5Mg==.html?spm=a2hzp.8253869.0.0
輻射測(cè)試
- GSP-9330
- EMI近場(chǎng)探棒: GKT-008
- DC Block: ADB-008
- 限幅器: GPL-5010
傳導(dǎo)測(cè)試
- GSP-9330
- EMI 近場(chǎng)探棒: GKT-008
- DC Block: ADB-008
- LISN: GLN-5040A
- 限幅器: GPL-5010
- 隔離變壓器: GIT-5060