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美國B＆W Tek智能光譜儀-Exemplar Plus LS

相關產(chǎn)品介紹：
Exemplar Plus LS是一款高性能智能光譜儀，利用像差校正凹面全息光柵來很大程度地減少雜散光。其長焦距加上高量子效率檢測器，可在整個190-1100nm光譜范圍內(nèi)提供 的數(shù)據(jù)質(zhì)量。Exemplar Plus LS具有高信噪比，使其非常適合弱光應用，還具有內(nèi)置快門，即使在照明條件下也可以進行暗掃描測量。作為Exemplar產(chǎn)品系列的成員，它具有板載數(shù)據(jù)處理和USB 3.0通信功能。Exemplar產(chǎn)品線還針對具有超低觸發(fā)延遲和柵極抖動的多通道操作進行了優(yōu)化。
標準光譜配置范圍為180nm-1050nm，分辨率范圍為0.6nm至6.0nm。自定義配置可用于OEM應用程序。
特征：
-車載處理，包括平均，平滑和暗補償
-每秒以6.3ms的積分時間采集和傳輸140多個光譜
-支持多達32個具有超低觸發(fā)延遲（95ns）和柵極抖動（+/- 20ns）的設備
技術指標：
-電源輸入：5V DC @ 3.0A（max啟動時）
-器類型：背面薄型CCD陣列
-波長范圍：190nm-1100nm
-檢測器像素格式：2048個有效檢測器元件
-有效像素大小：14微米x?0.9毫米
-光譜儀f /＃：3.0
-光譜儀光學布局：凹面全息，像差校正，平場
-動態(tài)范圍：50,000（典型值）
-數(shù)字化儀分辨率：16位或65,535：1
-資料傳輸速度：突發(fā)模式下積分時間為6.3ms時每秒> 140光譜
-觸發(fā)延遲：95ns +/- 20ns（要求時序圖）
-讀出速度：> 400kHz
-整合時間：6.3ms，以1μs為增量可調(diào)
-輔助端口：外部觸發(fā)，4個數(shù)字輸出（2個帶快門控制），2個數(shù)字輸入，模擬輸入，模擬輸出和系統(tǒng)復位
-工作溫度：5°C-35°C
-工作相對濕度：85％無冷凝
-CCD散熱：默認值：環(huán)境溫度為25oC時為0oC。
-重量：2.6磅
-尺寸圖：7.0英寸x 4.25英寸x 2.68英寸（178毫米x 108毫米x 67毫米）
-電腦介面：USB 3.0 / 2.0
-操作系統(tǒng)：Windows：7、8（32位和64位）
應用范圍：
-弱光紫外到近紅外光譜
-拉曼和熒光光譜
-在線過程監(jiān)控

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