蔡司X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進(jìn)的光源和光學(xué)技術(shù)
X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰(zhàn)是：實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢(shì)解決了這些挑戰(zhàn)：系統(tǒng)可提供高功率的X射線源，顯著提高X射線通量，從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達(dá)兩倍，而且不會(huì)影響空間分辨率。同時(shí)，X射線光源的穩(wěn)定性得到提升，使用壽
蔡司X射線顯微鏡Xradia 610 & 620 Versa采用改進(jìn)的光源和光學(xué)技術(shù)
X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰(zhàn)是：實(shí)現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢(shì)解決了這些挑戰(zhàn)：系統(tǒng)可提供高功率的X射線源，顯著提高X射線通量，從而加快了斷層掃描速度。工作效率提高達(dá)兩倍，而且不會(huì)影響空間分辨率。同時(shí)，X射線光源的穩(wěn)定性得到提升，使用壽命也更長(zhǎng)。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 600 Versa系列主要特性包括：
?高空間分辨率500nm，小體素40 nm
?與蔡司Xradia 500Versa系列相比，工作效率提高兩倍
?更加簡(jiǎn)便易用，包括快速激活源
?能夠在較大的工作距離下對(duì)更廣的樣品類型和尺寸的樣品進(jìn)行亞微米特征的觀察
持續(xù)改進(jìn)和可升級(jí)性
蔡司X射線顯微鏡旨在通過(guò)不斷創(chuàng)新和發(fā)展進(jìn)行升級(jí)和擴(kuò)展，以保護(hù)我們客戶的利益。這樣可以確保隨著前沿技術(shù)的不斷進(jìn)步，顯微鏡技術(shù)也能向前發(fā)展，從蔡司Xradia Context microCT到蔡司Xradia 500/510/520 Versa，再到現(xiàn)在新增的蔡司Xradia 610/620 Versa，用戶都可以將系統(tǒng)升級(jí)至的X射線顯微鏡。
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