高溫四探針測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      HEST-900高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。

      雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高精度，也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

     HGTZ-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

產(chǎn)品特點(diǎn)

     高速加熱與冷卻方式

     高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
     溫度高精度控制

     過(guò)紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以控制樣品的溫度（遠(yuǎn)比普通加溫方式）。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
     不同環(huán)境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

     可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體，靜態(tài)或流動(dòng)），操作簡(jiǎn)單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。

產(chǎn)品應(yīng)用

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導(dǎo)體材料

導(dǎo)電功能薄膜材料

鍺類(lèi)功能材料

導(dǎo)電玻璃（ito)材料

柔性透明導(dǎo)電薄膜

其它導(dǎo)電材料等

功能特點(diǎn)

多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試

采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度，

可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；

可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的1-V、R-T、R-t等測(cè)量功能；

進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度更精準(zhǔn)；

儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pV；

10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，更加穩(wěn)定、可靠；

程控電子升壓技術(shù)，紋波更低、TVS防護(hù)系統(tǒng)，保證儀器安全性；

99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；

Ihuace pro強(qiáng)大的控制分析軟件。

   整體為桌面型設(shè)計(jì)，采用紅外燈加熱，無(wú)保溫爐膛結(jié)構(gòu)，滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室無(wú)灰塵排放的要求。
   內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏，可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線，并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。
   定點(diǎn)控溫模式下，可以將樣品10s內(nèi)加熱到1000攝氏度。
   控溫加熱下，可以5度/s速率下線性加熱到1000攝氏度。
   在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1小時(shí)。
   采用鉑熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。
   樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。
   配備真空泵，水冷設(shè)備，配備超溫、缺水、過(guò)流等報(bào)警保護(hù)裝置。
   溫度均勻區(qū)：60mm*100mm。

硬件配置

集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器

集成打機(jī)印接口，zui大可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

zui大支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤(pán)，讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢

軟件功能

Hc5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro，采用labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)，符合高分子材料性能的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的的穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，支持新的*標(biāo)準(zhǔn)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

多語(yǔ)介面：支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面；

即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

技術(shù)指標(biāo)

溫度范圍：室溫-1200℃，（反射爐加溫）配水冷機(jī)）；

控溫精度：±0.5℃；

測(cè)量精度：±0.25℃；

升溫斜率：800℃/min（zui快可10秒達(dá)800度）；

降溫斜率：1-200℃/min（可自調(diào)整）；

測(cè)量精度：0.5%；

樣品規(guī)格：直徑：20mm以?xún)?nèi)；厚度：5mm以?xún)?nèi)；

電極材料：鉑金；

測(cè)量方式：2線-4線測(cè)量方式；

供電：220V±10%，50Hz；

工作環(huán)境：0℃-55℃；

存儲(chǔ)條件：-40℃-70℃；

尺寸：750mmX660mmX360mm；

重量：25kg